光纖的熔接損耗的大小主要由三個(gè)因素決定：

　　1）、待熔接光纖的幾何精度：如包層圓度、芯包同心度等；

　　2）、待熔接的兩段光纖的對(duì)準(zhǔn)情況：如端面之間的間隙，纖軸的傾斜，端面的傾斜與彎曲等；

　　3）、待熔接的兩段光纖的模場(chǎng)直徑匹配的情況：熔接損耗會(huì)因?yàn)槟?chǎng)直徑的失配而增大。

　　G657標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光纖的幾何特性有非常嚴(yán)格的要求，滿足G.657標(biāo)準(zhǔn)的光纖完全可以保證光纖的幾何精度；同時(shí)現(xiàn)有的光纖端面切割和光纖熔接設(shè)備可以保證光纖的端面切割質(zhì)量和待熔接光纖的對(duì)準(zhǔn)；更為重要的是，G.657系列光纖在研發(fā)階段就考慮到與G.652光纖的熔接問(wèn)題，因此采用了全固的材料結(jié)構(gòu)組成并選用了大小合適的模場(chǎng)直徑設(shè)計(jì)值，以實(shí)現(xiàn)與G.652光纖低的熔接損耗。